岩崎 一彦(イワサキ カズヒコ) 2007年度

研究業績

学会発表

M. Kimura, M. Arai, S. Fukumoto, K. Iwasaki, Time Redundancy Processor with the Tolerance to Transient Faults Caused by Electromagnetic Waves, Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing , Session 2.3, Jun-07
M. Sato, H. Wakamatsu, M. Arai, K. Ichino, K. Iwasaki, T. Asakawa, Tester Structure Expression Language and Its Application to Tester Selection, IEEE 8th Workshop on RTL and High Level Testing, pp. 145-150, Oct-07
佐藤正幸,若松弘樹,新井雅之,市野憲一,岩崎一彦,浅川毅, テスタ構造表現言語とそのテスタ選択ツールへの応用, 第57回FTC研究会, セッション4, Jul-07
池田貴彦,新井雅之,福本聡,岩崎一彦, 分散システムにおいて多世代データを保持するデータ複製プロトコル, 電子情報通信学会技術研究報告, DC2007-6, pp. 1-6, Aug-07
福本聡,池田貴彦,新井雅之,岩崎一彦, 多世代データを保持する複製プロトコルのノード時間配置, 電子情報通信学会技術研究報告, DE2007-122,DC2007-19,pp.43-46, Oct-07
福本聡,黒川晴申,新井雅之,岩崎一彦, Evaluation Model of Pseudo Random Pattern Quality for Logic BIST, 電子情報通信学会技術研究報告, DE2007-124, DC2007-21, pp.51-56, Oct-07
大沢健太郎,新井雅之,岩崎一彦, メモリBISTのハードウェアオーバヘッド削減に関する一考察, 第58回FTC研究会, セッション1, Jan-08
原田脩平,新井雅之,福本聡,岩崎一彦, データ分割によるDHTルーティングのセキュリティ改善手法, 第58回FTC研究会, セッション3, Jan-08
周藤明史,新井雅之,岩崎一彦, スキャンベースハイブリッドBISTにおける消費電力削減に関する一考察, 電子情報通信学会技術研究報告, DC2007-72, pp. 33-38, Feb-08
遠藤辰朗,新井雅之,岩崎一彦, ばらつきを考慮した無線送信回路のテストに関する一考察, 電子情報通信学会技術研究報告, DC2007-81, pp. 89-94, Feb-08

論文発表

M. Arai, S. Fukumoto, K. Iwasaki, T. Matsuo, T. Hiraide, H. Konishi, M. Emori, T. Aikyo, Test Data Compression for Scan-Based BIST Aiming at 100x Compression Rate, IEICE Transactions on Information and Systems, Vol. E91-D, No. 3, pp. 726-735, Mar-08
M. Arai, S. Fukumoto, K. Iwasaki, Study on Test Data Reduction Combining Illinois Scan and Bit Flipping, IEICE Transactions on Information and Systems, Vol. E91-D, No. 3, pp. 720-725, Mar-08
M. Arai, S. Fukumoto, K. Iwasaki, Study on Expansion of Convolutional Compactors over Galois Field, IEICE Transactions on Information and Systems, Vol. E91-D, No. 3, pp. 706-712, Mar-08
福本聡,新井雅之,岩崎一彦, 安全・安心のための半導体設計・テスト技術, OR学会誌, Jul-07