岩崎 一彦（イワサキ カズヒコ） 2009年度

研究業績

学会発表

M. Arai, A. Suto, K. Iwasaki, K. Nakano, M. Shintani, K. Hayatama, and T. Aikyo “Small Delay Fault Model for Intra-Gate Resistive Open Defects,” VLSI Test Symposium (VTS), pp. 27-32, May 2009.

論文発表

A. Uzzaman, B. Keller, B. Foutz, S. Bhatia, T. Bartenstein, M. Arai, and K. Iwasaki, “Reduction of Test Data Volume and Improvement of Diagnosability,” IEICE Trans. Information and Systems, Vol. E93-D, No. 1, pp. 17-23, Jan. 2010.

対外的な諸活動

学会活動

WRTLTステアリング委員

その他の活動

NEDO技術委員