成田晨太郎,佐藤諒平,福本聡,``CANの非対称性を考慮した単一ビット誤りによるオーバヘッド評価," 信学技報, vol. 125, no. 352, DC2025-111, pp. 1-6, 2026年2月.
青山智哉,新井雅之,永村美一,福本聡,``CapsNetを用いた半導体ウェハマップ欠陥パターン分類における精度の検討," 信学技報, vol. 125, no. 352, DC2025-112, pp. 7-12, 2026年2月.
西川健太,大原衛,新井雅之,福本聡,``ブロックチェーンを用いた連携チェックポインティングにおける可用性評価モデルの構築と最適化," 信学技報, vol. 125, no. 402, DC2025-150, pp. 154-159, 2026年3月.
学会発表(国際)
M.Kurokawa, Y. Nagamura, M. Arai, S. Fukumoto, ``Self-Training for Accuracy Improvement in Wafer Map Defect Pattern Classification Using AI," in Proceedings of 29th ISSAT International Conference on Reliability and Quality in Design, Honolulu, Hawai, USA - August 91-95, 2025.