岩崎 一彦（イワサキ カズヒコ） 2017年度

研究業績

論文発表

1. M. Arai and K. Iwasaki, “Reordering-Based Test Pattern Reduction Considering Critical Area-Aware Weighted Fault Coverage,” IEICE Trans. Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Vol. E100-A, No. 7, pp. 1488-1495, Jul. 2017. DOI: 10.1587/transfun.E100.A.1488
2. Y. Nagamura, K. Shiozawa, T. Koyama, J. Matsushima, K. Tomonaga, Y. Hoshi, Shuji Nomura, M. Arai, and K. Iwasaki, “Layout-Based Test Coverage Verification for High-Reliability Devices,” IEEE Trans. Semiconductor Manufacturing, Vol. 30, No. 4, pp. 317-322, Nov. 2017. Online ISSN: 0894-6507. DOI: 10.1109/TSM.2017.2746089.

学会発表（国内）

1. 小林泰生, 岩崎一彦, “ビアオープン故障を考慮した重み付き故障カバレージに関する考察,”電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2017-74, pp. 31-36, 2017年12月15日.
2. 新井雅之, 岩崎一彦, “2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察,”電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2017-77, pp. 1-6, 2018年2月20日.

学会発表（国際）

1. M. Arai, S. Inuyama, and K. Iwasaki, “Layout-Aware 2-Step Window-based Pattern Reordering for Fast Bridge/Open Test Generation,” International Test Conference (ITC), Papar 5.2, pp. 1-8, Nov. 2017.