IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Best Paper Award competition Honorable Mentionを受賞しました
掲載日：2021年3月26日
学会名,イベント名
IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)
受賞名
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing （2020）
Best Paper Award competition Honorable Mention
受賞対象
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
"CNN-based Layout Segment Classification for Analysis of Layout-induced Failures’’
受賞者
永村 美一 さん（電子情報システム工学域 博士後期課程3年）
井手 隆 さん（ルネサスエレクトロニクス株式会社）
新井 雅之 准教授 （日本大学 生産工学部）
福本 聡 教授（電子情報システム工学域）
指導教員名
福本 聡 教授（電子情報システム工学域）
受賞日
2021年3月13日