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IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Best Paper Award competition Honorable Mentionを受賞しました

掲載日:2021年3月26日

学会名,イベント名

IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)

受賞名

IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing (2020)

Best Paper Award competition Honorable Mention

受賞対象

IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

"CNN-based Layout Segment Classification for Analysis of Layout-induced Failures’’

受賞者

永村 美一 さん(電子情報システム工学域 博士後期課程3年)

井手 隆 さん(ルネサスエレクトロニクス株式会社)

新井 雅之 准教授 (日本大学 生産工学部)

福本 聡 教授(電子情報システム工学域)

指導教員名

福本 聡 教授(電子情報システム工学域)

受賞日

2021年3月13日