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IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Outstanding Young Scientist Award を受賞しました

掲載日:2019年6月25日

学会名

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter

受賞名

Outstanding Young Scientist Award

受賞対象

The increasing failure rate property of connected-(1,2)-or-(2,1)-out-of-(m,n):F lattice systems - the cases of m = 2, 3, 4 -

受賞者名

中村 太信 さん(経営システムデザイン学域 博士後期課程3年)

指導教員

山本 久志 教授(電子情報システム工学域)

受賞日

2019年6月22日