IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Outstanding Young Scientist Award を受賞しました
掲載日：2019年6月25日
学会名
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter
受賞名
Outstanding Young Scientist Award
受賞対象
The increasing failure rate property of connected-(1,2)-or-(2,1)-out-of-(m,n):F lattice systems - the cases of m = 2, 3, 4 -
受賞者名
中村 太信 さん（経営システムデザイン学域 博士後期課程3年）
指導教員
山本 久志 教授（電子情報システム工学域）
受賞日
2019年6月22日