岩崎 一彦（イワサキ カズヒコ） 2016年度

研究業績

学会発表（国内）

1. 小林泰生, 岩崎一彦, 論理ゲートのファンアウト数とその配線長の関係について, 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2016-12, 2016年6月.
2. 小林泰生, 岩崎一彦, クリティカルエリアの重複と重み付き故障カバレージ, 第15回情報技術フォーラム(FIT), C-025, 2016年9月.
3. 犬山慎吾, 岩崎一彦, 新井雅之, 重み付き故障カバレージに基づくテストパターン並替えの高速化手法, 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2016-55, 2016年11月.

学会発表（国際）

1. S. Inuyama, K. Iwasaki, and M. Arai, Note on Critical-Area-Aware Test Pattern Generation and Reordering, International Test Conference (ITC), PO 10, Nov. 2016.
2. S. Inuyama, K. iwasaki, and M. Arai, Critical-Area-Aware Test Pattern Generation and Reordering, Asian Test Symposium (ATS), 5A.2, Nov. 2016.
3. Y. Nagamura, K. Shiozawa, T. Koyama, J. Matsushima, K. Tomonaga, Y. Hoshi, S. Nomura, M. Arai, and K. Iwasaki, Layout-Based Test Coverage Verification for High-Reliability Devices, International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM), DM-011, Dec. 2016.