福本 聡（フクモト サトシ） 2021年度

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研究業績

論文発表

  1. Yoshikazu Nagamura, Koji Arima, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto, ``Layout Feature Extraction Using CNN Classification in Root Cause Analysis of LSI Defects," IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Vol.34, Issue 2, pp.153-160, May 2021.
学会発表（国内）

  1. 藤田樹, 永村美一, 新井雅之, 福本聡, ``CapsNetを用いたウェハ上不良パターンの分類,'' FIT2021, C-018, 第1分冊, pp. 211-212, 2021.
  2. 横山慎悟, 後藤亘, 大原衛, 福本聡, ``CANにおけるARQおよびFECの性能と可用性に関する考察,'' FIT2021, C-019, 第1分冊, pp. 213-214, 2021.
  3. 川口大樹, 永村美一, 新井雅之, 福本聡, ``LSIレイアウト画像の分類におけるLight-Weight GANを用いたデータ拡張手法の検討," 信学技報, vol. 121, no. 195, DC2021-16, pp. 25-30, 2021年10月.
  4. 稲垣景子, 福本聡, ``モバイルクラウドソーシングの協調タスク依頼における確率的エピデミック手法の解析," 信学技報, vol. 121, no. 293, DC2021-56, pp. 7-12, 2021年12月.
  5. 遠山喬, 大原衛, 新井雅之, 福本聡, ``クラウド型鉄道信号における同期ラウンドモデル上の非同期処理," 第6回 Winter Workshop on Safety（安全性に関する冬のワークショップ; 共催: 日本信頼性学会).
  6. 藤田樹, 新井雅之, 松田忠勝, 永村美一, 福本聡, ``CapsNetを用いた多重欠陥ウェハマップ不良パターンの分類に関する一考察," 信学技報, vol. 121, no. 388, DC2021-78, pp. 81-86, 2022年3月.
  7. 後藤亘, 横山慎悟, 大原衛, 福本聡, ``誤り処理機構を悪用したバスオフ攻撃への一回避手法," 信学技報, vol. 121, no. 426, DC2021-88, pp. 56-60, 2022年3月.
  8. 川口大樹, 藤田樹, 永村美一, 新井雅之, 福本聡, ``AIによるLSI レイアウト上の欠陥検出のための新しい欠陥モデルの検討," 信学技報, vol. 121, no. 426, DC2021-89, pp. 61-66, 2022年3月.
学会発表（国際）

  1. I. Fujita, Y. Nagamura, M. Arai, and S. Fukumoto, ``Note on CapsNet-Based Wafer Map Defect Pattern Classification," Proc. IEEE 30th Asian Test Symposium, Nov. 2021, pp. 37–42.
受賞・表彰等(本人）

  1. 電子情報通信学会 フェローの称号 受称, 2022年3月17日.
その他の活動（社会貢献活動）

  1. 電子情報通信学会論文誌常任査読委員
  2. 電子情報通信学会情報システムソサイエティ･ディペンダブルコンピューティング研究会専門委員会 委員
教員・研究紹介