三浦 幸也(ミウラ ユキヤ) 2012年度

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研究業績

論文発表

  1. Yukiya Miura and Yoshihiro Ohkawa, Dependable Techniques for Noise Block and Delay Detection/CorrectionInformation, Technology Letters, Forum on Information Technology 2012, RC-003, pp.39-44, Septmber 2012.
学会発表(国内)

  1. Yukiya Miura, On-chip Temperature and Voltage measurement for Field Testing, IEEE European Test Symposium, March 2012.
  2. Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Michiko Inoue, Yukiya Miura, Satoshi Ohtake, DART: Dependable VLSI Test Architecture and Its Implementation, International Test Conference, November 2012.
  3. Yoshihiro Ohkawa and Yukiya Miura, Dual Edge Triggered Flip-Flops for Noise Blocking and Application to Signal Delay Detection, Asian Test Symposium, November 2012.
学会発表(国際)

  1. 三宅庸資,笹川拓麿,佐藤康夫,梶原誠司,三浦幸也,リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討,電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会,2012年6月
  2. 三宅庸資,津森渉,佐藤康夫,梶原誠司,三浦幸也モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法,電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会,2013年2月
特許申請

  1. 回路入力及び回路状態評価方法並びに評価装置,特許第5171595,東京都立大学,三浦幸也
委員等(民間団体・学術団体)

  1. IEEE-CS TTTC Technical Activities Iddq Testing Committee委員
  2. ETS, ATS, DATE等の各種国際会議のOG & PC member
委員等(学会活動)

  1. Asian Test Symposium, Tutorial Chair
  2. 電子情報通信学会論文誌査読委員,電子情報通信学会特集号編集委員