IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter から 2021年度 Chapter Award の論文賞を受賞しました！
掲載日：2022年12月14日
学会名,イベント名
IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter
受賞名
2022年度 IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter 論文賞 (Best Paper Award)
受賞対象（テーマ）
"Layout Feature Extraction Using CNN Classification in Root Cause Analysis of LSI Defects," IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Vol.34, Issue 2, pp.153-160, May 2021.
受賞者名
福本 聡教授（電子情報システム工学科）
永村 美一さん（ルネサスエレクトロニクス株式会社/電子情報システム工学域博士後期課程修了(2020年度)）
有馬 高志さん（ルネサスエレクトロニクス株式会社）
新井 雅之さん（日本大学生産工学部数理情報工学科）
受賞日
2022年10月20日