三浦 幸也(ミウラ ユキヤ) 2005年度

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研究業績

学会発表

Yukiya Miura, Characteristics of Fault Diagnosis for Analog Circuits Based on Preset Test, The 20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Monterey, 2005 October, Proceedings of The 20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, pp.573-581, 2005 October
Masaki Hashizume, Tomomi Nashida, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada, Yukiya Miura, Current Testable Design of Resistor String DACs, The Third IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications, Kuala Lumpur, 2006 January, Proceedings of The Third IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications, pp.197-200, Kuala Lumpur, 2006 January

論文発表

Yukiya Miura, Feasibility of Interconnect Open Detection by Logic Testing of Pre-charge Type, Information Technology Letters, Forum on Information Technology 2005, pp.45-48, 2005 September
坂口貴司,橋爪正樹,四柳浩之,三浦幸也, 組み込み型IDDQテスト回路の製造ばらつきの影響, 平成17年度電気関係学会四国支部連合大会, p.120, 2005年9月
三浦幸也, X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用したアナログ回路の故障診断, 電子情報通信学会論文誌(DI), Vol.J-88D-I, No.10, pp.1547-1554, 2005年10月
三浦幸也, クロストークを考慮したクロック信号の生成・検出法の提案, 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2005-82, pp.61-66, 2006年2月

対外的な諸活動

学会活動

①IEEE, ・TTTC, Technical Activities, Iddq Testing Committee Member
・ The Fifteenth Asian Test Symposium, Secretary
・ The Eighth Workshop on RTL ATPG & DFT, ATS Liaison
・ The IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Program Committee Member
・The Eleventh IEEE European Test Symposium, Program Committee Member
②電子情報通信学会, ・ソサイエティ論文誌編集委員会, 査読委員
・各種英文論文誌特集号, 編集委員
・各種和文論文誌特集号, 編集委員