三浦 幸也(ミウラ ユキヤ) 2008年度

【教員紹介ページへ】

研究業績

学会発表

Current Testable Design of Resistor String DACs for Open Defects, 23rd International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications, 2008-6
Diagnosis of Analog Circuits by Using Multiple Transistors and Data Samplings, 23rd IEEE Int. Symp. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems Symposium, 2008-10
論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について, 電子情報通信学会ディペンダブル
コンピューティング研究会, 2008-6
VLSIのトランジスタ劣化特性に関する考察, 電子情報通信学会総合大会, 2009-3
抵抗ラダー型DACの電流テスト容易化設計, 電子情報通信学会総合大会, 2009-3

論文発表

Adaptive Fault Diagnosis of Analog Circuits by Operation-Region Model and X-Z Zoning Method, Yukiya Miura and Jiro Kato, Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2008-6
A Case Study on Identification of Circuit Variation by Transistor States, Yukiya Miura, Information Technology Letters, Forum on Information Technology, 2008-9