三浦 幸也（ミウラ ユキヤ） 2010年度

研究業績

学会発表

On Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation, Proc. IEEE European Test Symposium 2010, pp.107-111, 2010-5.
Circuit Failure Prediction by Field Test (DART) with Delay-Shift Measurement Mechanism, Integrated Circuits and Devices in Vietnam, 2010-8.
A Supply Current Testable DAC of Resistor String Type, Proc. 2011 RISP International Workshop on Nonlinear Circuits, Communications and Signal Processing (NCSP'11), 2011-1.

対外的な諸活動

学会活動

電子情報通信学会ソサイエティ論文誌編集委員会, 査読委員.
電子情報通信学会英文論文誌特集号, 編集委員.
IEEE European Test Symposium, Program Committee委員.
Design, Automation and Test in Europe Conference, Program Committee委員.
Asian Test Symposium, Organization Committee委員.