三浦 幸也（ミウラ ユキヤ） 2020年度

研究業績

論文発表

1. Yukiya Miura and Tatsunori Ikeda, "Aging Estimation of MOS FETs using Aging-Tolerant/Aged Ring Oscillators," IEEJ Transactions on Electrical and Electronic Engineering, Vol. 15, No. 10, pp.1475-1481, October 2020

学会発表（国内）

1. 堤信吾，三浦幸也，"FPGAの配線遅延の影響を考慮した製造ばらつき測定方法の検討," 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会，2021年2月

学会発表（国際）

1. Masao Aso, Yukiya Miura, et al., "On-Chip Delay Measurement for In-Field Test," IEEE VLSI Test Symposium, April 2020
2. Yukiya Miura and Yuya Kinoshita, "Soft Error Tolerance of Power-Supply-Noise Hardened Latches," International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, July 2020
3. Yousuke Miyake, Yukiya Miura, et al., "On-Chip Delay Measurement for Degradation Detection And Its Evaluation under Accelerated Life Test," International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, July 2020

受賞・表彰等（指導学生）

1. 木下湧矢，第7回研究会若手優秀講演賞，電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会，2020年10月

委員等（民間団体・学術団体）

1. FTC研究会幹事

委員等（学会活動）

1. 電子情報通信学会論文誌査読委員
2. 電子情報通信学会英文論文誌特集号編集委員
3. IEEE-CS TTTC Technical Activities委員
4. ETS, ATS, DATE等の各種国際会議のOG & PC member
5. ATS2021実行委員会委員長